半導體及封裝

Saki AOI / In-Line X-ray

桌上式光學檢查機 Benchtop AOI

[簡介&摘要]

正因為是離線型,所以具有工時短,生產效率高的優點。
兩種都採用了大口徑遠心透鏡光學系統,都能高精度發現產品缺陷。由於與線上機一樣,可以實時 正整個圖像的亮度和位置容差,因此,具有與線上機相同的穩定性和重複性。另外,透過豐富的算法和照明的組合,能夠高精度檢測出產品的缺陷。

[適用產業&應用範圍]

電路板及組裝,半導體及封裝,檢測及其他等。

[規格&型號]

BF-Comet系列, BF-Sirius
台式高速外觀檢查裝置
•最大尺寸 330x250mm for BF-Comet10/18
,500x460mm for BF-Sirius
•掃描時間僅 5 秒(BF-Comet18)
•可選擇光學系統(18μm/10μm, BF-Comet10/18)