半導體及封裝

Koh Young 3D AOI / SPI

KY8030-2 / 3D錫膏檢查機

[簡介&摘要]

錫膏檢測系統是利用光學的原理,通過三角測量的方法掃描印刷在PCB板上的錫膏厚度、面積、體積、XY偏移、形狀、橋接等工藝缺陷的檢測設備。

* 全球市佔率最高.
* 全球重覆檢出率最高,誤判率為0的SPI設備.
* 不會因為PCB板顏色的問題造成誤判.
問題Q&A
1. 如何解決陰影的問題?
Ans. 消除陰影的摩爾條文技術&雙方向照射光系統
2. 如何解決板彎實時補償 (2D+3D方案)?
Ans. 板彎補償 (Pad Referencing + Z-Tracking)
3. 操作是否更便利?
Ans. Renewal GUI, 彩色3D圖片,十分鐘之內完成程式,上線生產.
4. 異物如何檢測?
Ans. 3D異物檢測功能 (可選)

[適用產業&應用範圍]

電路板及組裝,半導體及封裝,發光二極體,檢測及其他等。

[規格&型號]

KY-8030-2

●15um*
1. FOV(Field of View) Size 30.7 x 30.7mm / 1.20 x 1.20 inch
2. 各FOV檢測速度 : 0.43 sec
3. 最小測量尺寸 : 150 um(5.91mils)
●20um*
1. FOV(Field of View) Size 40.9 x 40.9mm / 1.60 x 1.60 inch
2. 各FOV檢測速度 : 0.45 sec
3. 最小測量尺寸 : 200 um (7.87 mils)
●25um*
1. FOV(Field of View) Size 51.2 x 51.2mm / 2.01 x 2.01 inch
2. 各FOV檢測速度 : 0.47 sec.
3. 最小測量尺寸 : 250 um (9.84 mils)
●設備共同規格如下: 1. Z 軸分辨率: 0.37 um. 2. 高度精度(校正模塊)*: 1 um. 3. 光柵移動精度: 2.5 nano meter. 4. 01005 檢測能力Gage R&R (±50% tolerance) : <10% at 6δ . 5. 相機: 4M Pixel 高速相機.