半導體及封裝

Saki AOI / In-Line X-ray

雙面式光學檢查機 Double-sided AOI

[簡介&摘要]

在線型/離線型雙面同時檢查高解像度高速外觀檢查機
․BF-TristarII 是線上型, BF-10BT是離線型
․網羅了在進行最終檢查時所需的SMT工程中的掉落物
檢查功能,飛濺物品自動檢測功能,對在選擇性錫焊
過程中組裝的大型元件的錫焊檢查功能

[適用產業&應用範圍]

電路板及組裝,半導體及封裝,檢測及其他等。

[規格&型號]

由於引入了兩面同時檢查裝置,以往正面背面的兩個工序變成了一個工序,由於線掃描模式的裝置體積小,可以方便地安裝到單元生產線上。
由於在掃描的去程拍攝正面、在返程拍攝背面,因此,不會受到另一面照明的干擾,可以可靠地進行檢查。
大口徑遠心透鏡光學系統的10μm分辨率、豐富的算法和照明的組合,可以進行透過條碼轉換機器類型,對客戶端伺服器輸出數據等各種數據操作,單軸驅動簡單架構等特點與2D-AOI相同。